高 Tg FR-4 板材怎么选:Tg、Td 与 Z 轴 CTE 各管什么

设计指南2026-11-01三强线路技术团队
高 Tg FR-4 板材怎么选:Tg、Td 与 Z 轴 CTE 各管什么

很多图纸的材料栏只写一句「FR-4, High-Tg」。工厂收到后能选的料不止一种,它们的 Tg 都高,但在无铅回流里的表现可以差很多。原因是 Tg 只回答一个问题:树脂在什么温度从玻璃态变软。板子会不会分层、孔铜会不会被拉裂,要看另外几项指标。

基材选型的整体顺序见 PCB 基材选择的四道筛选,本文只展开其中「热性能」这一道:每项指标测什么、怎么测、该在图纸上怎么写。

热性能指标对照

指标含义常用测试方法主要影响
Tg树脂从玻璃态转为高弹态的温度IPC-TM-650 2.4.25(DSC)/ 2.4.24(TMA)/ 2.4.24.4(DMA)Tg 以上 Z 向膨胀明显加快
Td树脂热分解温度,通常以 5% 失重点表示IPC-TM-650 2.4.24.6(TGA)多次高温回流后的分层与起泡
α1 / α2Tg 以下 / 以上的 Z 轴热膨胀系数IPC-TM-650 2.4.24(TMA)孔铜承受的拉伸应变
50–260°C Z 轴总膨胀从室温附近到回流峰值的总尺寸变化(%)IPC-TM-650 2.4.24(TMA)回流过程中孔铜的累计应变
T260 / T288在 260°C / 288°C 恒温下到分层的时间IPC-TM-650 2.4.24.1(TMA)抗分层余量

这几项在材料规格书和 IPC-4101 的 slash sheet 里都有对应字段。只写 Tg,等于只约束了表格第一行。

Tg 的数值取决于测法

同一种板材,用 DSC、TMA、DMA 测出的 Tg 并不相同。DSC 看比热变化,TMA 看膨胀曲线的拐点,DMA 看模量变化,DMA 的读数通常高于另外两种。材料规格书会注明测试方法;两份规格书比较 Tg 时,先确认用的是同一种方法,否则数值没有可比性。

图纸上写 Tg 下限时,应同时写测试方法,例如「Tg ≥ 170°C(DSC,IPC-TM-650 2.4.25)」。SKPCB 已登记的高 Tg 材料口径为 Tg >170°C。

Tg 高不等于不分层

Tg 和 Td 描述的是两件不同的事。Tg 是可逆的物理转变,板子冷却后会回到玻璃态;Td 是不可逆的化学分解,树脂分解产生的气体会在层间和孔壁周围形成空洞,表现为分层或起泡。

传统双氰胺(Dicy)固化体系可以把 Tg 做高,但 Td 不一定跟着高。酚醛固化体系和加填料的体系通常 Td 更高、Z 向膨胀更小,更适合多次无铅回流。所以两种 Tg 都在 170°C 以上的材料,经过三次无铅回流后的结果可能完全不同。决定这一点的是 Td 和 T260/T288,不是 Tg。

Z 轴 CTE 与孔铜疲劳

铜的热膨胀系数远小于环氧树脂在 Tg 以上的 Z 向膨胀系数。板子加热时,树脂沿厚度方向膨胀,孔铜被拉伸;温度越过 Tg 后 α2 生效,膨胀速度明显变快。回流峰值在 260°C 附近,高于任何 FR-4 的 Tg,所以每一次回流都会经历 α2 段。

这段膨胀对孔铜的影响随板厚增加而放大。板越厚、孔越小,孔铜承受的应变越集中,这也是高层数厚板对材料更敏感的原因。纵横比与孔铜分布见 高层数板的钻孔纵横比与电镀深镀能力;SKPCB 的 PTH 纵横比上限为 10:1。

因此,对厚板和多次回流的设计,「50–260°C Z 轴总膨胀」比单独的 α1、α2 更直接:它就是孔铜在一次回流中要跟着走完的尺寸变化。

什么情况需要高 Tg

以下情况,建议在材料栏明确写出高 Tg 及配套热性能指标:

  • 板厚较大或层数较多,Z 向膨胀对孔铜的累计应变大。
  • 组装需要多次无铅回流,例如双面贴装再加返修。
  • 产品工作温度长期偏高,靠近或进入普通 FR-4 的 Tg 区间。
  • 含厚铜层或局部大面积铜,层压和回流时内部温差大。厚铜层压的树脂填充见 厚铜板层压与树脂填充控制。

什么情况不必上高 Tg

薄板、低层数、单次回流、工作温度不高的产品,普通 Tg 材料通常够用。高 Tg 材料一般更硬、更脆,钻孔时钻头磨耗更大,价格也更高。没有热应力需求时指定高 Tg,换来的是成本,而不是可靠性。

如果真正担心的是分层,与其只抬高 Tg,不如直接对 Td 和 T260/T288 提要求。

图纸上怎么写

把「High-Tg」改写成可验收条件,可按下面的结构写:

  1. 材料类别:引用 IPC-4101 的 slash sheet 编号,或写明「供应商提交材料规格书,经设计方批准」。
  2. Tg:下限 + 测试方法,例如「Tg ≥ 170°C(DSC)」。
  3. Td:下限 + 测试方法(TGA,5% 失重)。
  4. Z 轴膨胀:50–260°C 总膨胀上限,或 α1/α2 上限。
  5. 分层时间:T260 或 T288 下限,按回流次数和板厚选择。
  6. 替代规则:替代料必须满足以上全部条目,并经书面确认。

UL 认可对材料与板厚的限制是另一组约束,见 把 UL 材料认可当作叠层设计输入。多层板的整体能力与可选材料见 多层 PCB 与 材料;要按具体叠层评审材料,可从 报价 提交资料。

小结

Tg 只约束树脂的软化温度。无铅回流下的分层看 Td 与 T260/T288,孔铜疲劳看 Z 轴膨胀。图纸上写「High-Tg」时,把这几项连同测试方法一起写成下限或上限,替代料才有验收依据。

FAQ

Q:Tg 和 Td 有什么区别?

A:Tg 是树脂软化的可逆转变温度;Td 是树脂开始热分解的温度,分解不可逆,会导致分层或起泡。

Q:为什么同一种板材的 Tg 有几个不同数值?

A:DSC、TMA、DMA 三种测法的原理不同,读数也不同。比较时要用同一种方法。

Q:Tg 170°C 的材料一定能承受无铅回流吗?

A:不一定。无铅回流峰值高于 Tg,抗分层能力主要取决于 Td 和 T260/T288,孔铜可靠性取决于 Z 轴膨胀。

Q:Z 轴 CTE 为什么影响孔铜?

A:树脂沿板厚方向的膨胀远大于铜,加热时孔铜被拉伸。板越厚,累计应变越大。

Q:所有多层板都应该用高 Tg 吗?

A:不必。薄板、单次回流、工作温度不高时普通 Tg 材料通常够用;高 Tg 材料更硬,加工成本更高。

Q:SKPCB 的高 Tg 材料口径是多少?

A:已登记的口径为 Tg >170°C;高 CTI 材料为 CTI >600V。具体牌号按叠层评审确认。

需要为这个材料方案确认可制造性?

高频/高速基材的选型直接决定阻抗与损耗。我们可核对叠层、Dk/Df 与压合参数,并给出替代料建议。